薄膜測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
測量原理
使用兩個激光傳感器安裝在被測物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上，確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的傳感器就開始對其表面進行采樣，分別測量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離，測量值通過串口傳輸?shù)接嬎銠C，再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理，得到目標(biāo)的厚度值。
薄膜測厚儀的技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標(biāo)定制。
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差。
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
實時顯示測量結(jié)果的值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進行判斷。
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性。
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果。
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看。
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸。
支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告。
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